微型LED被广泛认为是下一代高端显示技术的核心元件。近日，天津大学精密测试技术及仪器全国重点实验室、精仪学院感知科学与工程系黄显团队打破微型LED晶圆测试瓶颈，实现微型LED晶圆高通量无损测试，研究成果于6月13日在电气领域顶级期刊《自然-电子学》刊发。

　　本研究在柔性电子与半导体测试领域取得了关键突破，打破了微型LED大规模电致发光检测的技术瓶颈，首创微型LED晶圆高通量、无损检测技术，实现了微型LED电致发光检测技术从零到一的突破，为其他复杂晶圆如CPU、FPGA检测提供了革命性技术方案。该技术已在天开园核心区成立的万柔科技和孚莱感知半导体公司开启产品化进程。

　　记者 单炜炜 通讯员 梁绍楠